膜厚測量儀的工作原理及行業(yè)應(yīng)用介紹

時間：2022-05-09作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：393

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測厚儀等

• 詞條

  詞條說明

• 熒光光譜儀功能使其能在以下領(lǐng)域發(fā)揮性能可靠的優(yōu)勢

  熒光光譜儀堅固的機身結(jié)構(gòu)使其不會輕易受到損傷，因此可以工作較長的時間，并降低用戶的擁有成本。下面和一六儀器了解熒光光譜儀功能使其能在以下領(lǐng)域發(fā)揮性能可靠的優(yōu)勢。1、廢料分揀用于廢料分揀的奧林巴斯光譜儀帶有一個智能分揀(SmartSort)功能，可以基于被測材料簡單直觀地延長或縮短檢測時間，從而既節(jié)省了時間，又盡可能為用戶提供了較佳匹配。2、地球化學(xué)和礦業(yè)勘探光譜儀是一款在礦業(yè)勘探作業(yè)中較受歡迎的工

• 一六儀器帶你深入了解熒光光譜儀

  熒光光譜儀分析對象主要有各種磁性材料、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等，以及各種形態(tài)樣品的無標(biāo)半定量分析，對于均勻的顆粒度較小的粉末或合金，結(jié)果接近于定量分析的準(zhǔn)確度。 可用于一般樣品(液體、固體)中的穩(wěn)態(tài)熒光測量和瞬態(tài)熒光測量，如高分子和**分子自然熒光的研究，液體中大分子分子運動的研究，固體高分子取向的研究，高聚物光降解和光穩(wěn)定性的研究，光敏化過程的研究。熒光光譜儀(XRF)由激

• X射線熒光光譜分析樣品制備及應(yīng)用

  X射線熒光光譜儀經(jīng)過這些年不斷的發(fā)展和技術(shù)完善，在很多方面都已經(jīng)得到了廣泛的應(yīng)用。但是我們對于它的了解并不多。如果我們想要好地使用它，讓它為我們提供準(zhǔn)確的測量結(jié)果，我們必須要了解相關(guān)的內(nèi)容才行。今天就跟著X射線熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來了解一下吧。X射線熒光光譜分析樣品制備：進(jìn)行X射線熒光光譜分析的樣品，可以是固態(tài)，也可以是水溶液。無論什么樣品，樣品制備的情況對測定誤差影響很大。對金屬樣

• 臺式涂鍍層測厚儀儀器分析優(yōu)勢

  XTU-4C是一款設(shè)計結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度較高的鍍層測厚儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計，不但可以測量各種微小樣品，即使大型**出樣品腔尺寸的工件也可測量，是一款測量涂鍍層成分及厚度*、適用性強的機型。臺式XTU-4C涂鍍層測厚儀分析優(yōu)勢：1.即放即測※C型樣品腔體設(shè)計便于放置樣品※放置樣品后,僅需幾秒便能出※無損分析:*破壞樣品2較佳設(shè)計，快速找點※高分辨率和高放大倍率的彩色數(shù)碼影像裝置,