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詞條說明
利用手持式光譜儀K-8000檢測(cè)金屬板狀、塊狀、帶狀、方管狀、中等規(guī)格柱狀和錐體狀(截面)材料等易獲得能完全覆蓋測(cè)量窗口(和接觸窗口)的檢測(cè)面,進(jìn)而**較佳檢測(cè)結(jié)果,測(cè)試圓管(柱)狀、錐管狀等材料時(shí),軸向測(cè)試**切線向,直徑大于11 mm時(shí),兩個(gè)方向的檢測(cè)結(jié)果基本一致(直徑在12~63 mm之間時(shí),接觸窗口切線向沒有感應(yīng));檢測(cè)小規(guī)格柱狀、管狀以及絲狀材料,適當(dāng)延長(zhǎng)測(cè)試時(shí)間,并用已定值的實(shí)物樣品校
SDD還是PIN:您的手持式XRF分析儀需要哪種探測(cè)器?在購買手持式XRF分析儀時(shí),確定需要硅漂移探測(cè)器(SDD)還是PIN探測(cè)器是您需要做出的首要選擇之一。科邁斯KMX-RAY?XRF系列中的兩款儀器就配備了兩種不同的探測(cè)器:K-8000分析儀裝配有Si-PIN探測(cè)器(美國MOXTEK),而K-800、K-8000PLUS分析儀裝配有SDD探測(cè)器(德國KETEK)。SDD對(duì)比PIN:它
手持式合金分析儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器,主要由X光管、探測(cè)器、CPU以及存儲(chǔ)器組成。手持式合金分析儀是一種XRF光譜分析技術(shù),X光管產(chǎn)生的X射線打到被測(cè)樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子,出現(xiàn)殼層空穴,當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時(shí),就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量
手持式光譜儀檢測(cè)結(jié)果與試樣表面清潔度的關(guān)系
手持式光譜儀,即手持式X熒光光譜分析儀,使用的X熒光技術(shù),能做無損檢測(cè),制備平整、光潔的檢測(cè)面,有利于測(cè)試,但不利于手持式光譜儀的原位、現(xiàn)場(chǎng)快速檢測(cè)等優(yōu)勢(shì)。然而,但是試樣的狀態(tài)也直接影響著手持式光譜儀最后的檢測(cè)結(jié)果。金屬材料表面被氧化或銹蝕與否,與材料的材質(zhì)、熱處理狀態(tài)、表面狀態(tài)、環(huán)境、時(shí)間等有關(guān)。高鉻鎳不銹鋼表面生成致密氧化薄膜,阻止了氧化反應(yīng)向縱深發(fā)展,即使表面未拋光,也不明顯影響測(cè)試;碳鋼、
公司名: 科邁斯(深圳)科學(xué)儀器有限公司
聯(lián)系人: 肖
電 話: 0755-23144148
手 機(jī): 18124653232
微 信: 18124653232
地 址: 廣東深圳寶安區(qū)深圳市寶安區(qū)沙井街道后亭社區(qū)*二工業(yè)區(qū)56號(hào)長(zhǎng)安大廈1116
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網(wǎng) 址: kmx1688.b2b168.com
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