優(yōu)爾鴻信成分分析|FTIR紅外光譜分析實(shí)驗(yàn)室資源

時(shí)間：2026-01-13作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：287

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司專注于高低溫測(cè)試,光老化測(cè)試,振動(dòng)沖擊測(cè)試,IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試,鹽霧腐蝕測(cè)試,HALT測(cè)試,sem+eds測(cè)試,清潔度測(cè)試,工業(yè)CT掃描等, 歡迎致電 15827322876

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 優(yōu)爾鴻信精密量測(cè)|接觸式表面粗糙度測(cè)量

  接觸式表面粗糙度測(cè)量接觸式測(cè)量適合清晰波形輪廓，長(zhǎng)距離測(cè)量，球面受量程影響測(cè)量有限。對(duì)于常規(guī)表面、較為粗糙表面、硬質(zhì)材料表面、2D線粗糙度測(cè)量、深槽表面粗糙度就具有優(yōu)勢(shì)。常用檢測(cè)設(shè)備為表面粗糙度儀，依據(jù)GB/T 10610-2009標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試分析。富士康優(yōu)爾鴻信檢測(cè)，在工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)品領(lǐng)域，被譽(yù)為量測(cè)領(lǐng)航者，因擁有20多年的量測(cè)經(jīng)驗(yàn)，對(duì)不同產(chǎn)品、零件、工件表面粗糙度的檢測(cè)，優(yōu)爾鴻信擁有成熟的檢測(cè)流程、

• 如何采用光譜分析法檢測(cè)電子電器產(chǎn)品中鎳鍍層的厚度及其釋放潛力？

  采用光譜分析法檢測(cè)電子電器產(chǎn)品中鎳鍍層的厚度及其釋放潛力，通?？梢允褂靡韵虏襟E：首先，準(zhǔn)備好待檢測(cè)的樣品，確保其表面清潔、無(wú)損傷和污染物，以獲得準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果。常用的光譜分析方法如 X 射線熒光光譜法（XRF），利用 X 射線激發(fā)樣品中的原子，產(chǎn)生特征熒光 X 射線。通過(guò)測(cè)量這些熒光 X 射線的能量和強(qiáng)度，可以確定樣品中元素的種類(lèi)和含量。對(duì)于鎳鍍層厚度的檢測(cè)，XRF 能夠根據(jù)鎳元素的特征譜線強(qiáng)度來(lái)

• 如何評(píng)估電子電器產(chǎn)品生產(chǎn)過(guò)程中四溴雙酚A的遷移和釋放風(fēng)險(xiǎn)？

  材料特性分析首先要了解產(chǎn)品中使用四溴雙酚 A（TBBPA）的材料性質(zhì)。例如，如果 TBBPA 用于塑料外殼，需要研究塑料的類(lèi)型（如 ABS、PC 等）、玻璃化轉(zhuǎn)變溫度、結(jié)晶度等物理化學(xué)特性。一般來(lái)說(shuō)，在高溫、高濕度環(huán)境下，具有較低玻璃化轉(zhuǎn)變溫度的塑料更容易發(fā)生 TBBPA 的遷移。分析 TBBPA 與其他材料成分的相容性。如果 TBBPA 在材料中分散不均勻，可能會(huì)導(dǎo)致局部濃度過(guò)高，增加遷移和釋放

• 如何根據(jù)電子電氣產(chǎn)品的尺寸和重量來(lái)確定跌落試驗(yàn)的高度標(biāo)準(zhǔn)？

  在確定電子電氣產(chǎn)品跌落試驗(yàn)高度標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，尺寸和重量是兩個(gè)關(guān)鍵因素。首先考慮產(chǎn)品尺寸。對(duì)于較小尺寸的產(chǎn)品，例如小型手持電子設(shè)備，如智能手表、藍(lán)牙耳機(jī)等，其結(jié)構(gòu)相對(duì)緊湊。由于尺寸小，在跌落過(guò)程中空氣阻力對(duì)其影響較小，而且它們?cè)趯?shí)際使用場(chǎng)景中可能會(huì)從較高位置掉落，如從桌子、口袋等位置。因此，這類(lèi)產(chǎn)品的跌落試驗(yàn)高度可以相對(duì)較高，一般可設(shè)置在 1 - 1.5 米左右。這樣的高度能夠較好地模擬用戶日常使用中產(chǎn)品