直讀光譜儀常用光源的放電方式有哪些？

時(shí)間：2023-09-12作者：無(wú)錫創(chuàng)想分析儀器有限公司杭州分公司瀏覽：95

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 具體材料具體分析 臺(tái)式X熒光光譜儀的材料分析檢測(cè)法詳解

  臺(tái)式X熒光光譜儀因?yàn)樗奶赜刑攸c(diǎn)，所以可以無(wú)損檢測(cè)多種材料，具體材料具體分析，下面我們來(lái)了解一下X熒光光譜儀檢測(cè)幾種金屬合金材料和非金屬材料的檢測(cè)方法。生鐵的分析檢測(cè)，生鐵中的碳是以元素狀態(tài)存在，灰口鐵中的碳有的呈球狀石墨，有的呈片狀石墨，在研磨過程中表面上脫落的石墨孔也會(huì)引起其他分析元素的污染，造成分析錯(cuò)誤。澆鑄的試樣是不均勻的，不適合作X射線熒光分析。而急冷試樣的晶粒很細(xì)，分布，碳生成滲碳體（

• 伊瓦特手持式光譜儀可以用在哪些領(lǐng)域？

  伊瓦特手持光譜儀是基于XRF光譜分析技術(shù)的一種光譜儀，它可以進(jìn)行快速無(wú)損、高精度的檢測(cè)，廣泛應(yīng)用于冶全，地質(zhì)，有色、等各個(gè)領(lǐng)城，尤其是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域。創(chuàng)想儀器的手持式光譜儀采用模塊化設(shè)計(jì)，主機(jī)部件體積小、重量輕、可以輕松應(yīng)對(duì)多種場(chǎng)所，對(duì)于環(huán)境的要求不高。儀器無(wú)須預(yù)熱，即開即用。伊瓦特手持光譜儀在多種領(lǐng)域中游刃有余，受許多生產(chǎn)廠家的青睞。1、檢驗(yàn)合金材料、庫(kù)存材料管理、安裝材料復(fù)檢。在石化建設(shè)、

• 臺(tái)式x熒光光譜儀可以測(cè)金屬鍍層嗎？

  在工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制中，準(zhǔn)確測(cè)量金屬鍍層的厚度和成分至關(guān)重要。臺(tái)式X熒光光譜儀作為一種高效、精確的分析工具，能夠滿足這一需求，幫助企業(yè)和研究人員實(shí)現(xiàn)對(duì)金屬鍍層的無(wú)損檢測(cè)。今天創(chuàng)想儀器小編給大家介紹下臺(tái)式X熒光光譜儀在金屬鍍層測(cè)量中的應(yīng)用及其優(yōu)勢(shì)。臺(tái)式X熒光光譜儀的工作原理臺(tái)式X熒光光譜儀利用X射線照射待測(cè)樣品，激發(fā)樣品中的原子產(chǎn)生熒光。每種元素都有其*特的熒光光譜，類似于指紋，因此可以通過分析熒光

• 哪些因素會(huì)引起X熒光光譜儀的樣品誤差呢？

  眾所周知使用X熒光光譜儀的分析的過程中，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，所以我們需要注意分析面相對(duì)于整個(gè)樣品是否有代表性。此外，還要注意樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過程由于經(jīng)過多步驟操作，還必須防止樣品的損失和沾污。其實(shí)有很多原因會(huì)導(dǎo)致X熒光光譜儀的樣品有誤差，但是只要好好了解相關(guān)的原因，做到熟記于心，自然誤差也會(huì)減少許多。下面小編來(lái)給大家介紹下樣品自身