臺式x熒光光譜儀是否可以測金屬鍍層？

時間：2023-10-25

作者：無錫創(chuàng)想分析儀器有限公司杭州分公司

詞條
詞條說明
X熒光光譜儀樣品制得好分析數據準確高
一般來說X熒光光譜儀運用到的X射線熒光是一個表面分析的方法，它的分析方法是一個相對分析方法，這就要求任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復操作可能性。因此測試人員在制樣的時候得嚴格且精細，樣品的分析面相對于整個樣品要有代表性。1、避免制備樣品時發(fā)生誤差和樣品自身引起的誤差：（1）樣品的均勻性。（2）樣品的表面效應。（3）粉末樣品的粒度和處理方法。（4）樣品中存在的譜線干擾。（5）樣品本身的
紅外光譜儀的好處你知多少？
紅外光譜儀于50年代初期問世，紅外光譜法的應用開啟了**物結構鑒定的新章程，到了70年代中期，紅外光譜法的地位越來越重要，之后由于傅里葉變換紅外光譜儀的出現，還有一些新技術（如發(fā)光光譜，光聲光譜，色-紅聯(lián)用等）的出現，使紅外光譜得到了更加廣泛的應用。紅外光譜法的廣泛應用還是因為它自身優(yōu)點眾多：1.進行紅外光譜測定煩人樣品種類豐富，任何氣態(tài)，液態(tài)，固態(tài)樣品均可。固體樣品可加溴化鉀晶體共同研碎或加石蠟
臺式X熒光光譜儀中干擾譜線因素怎么去除？
臺式X熒光光譜儀在X射線光譜分析中，由于譜線之前互相干擾比較少，并且減少這種干擾的方法較多，在多數情況下譜線干擾現象不是影響分析結果的主要因素。不過我們在檢測稀土化合物中稀土元素中，發(fā)現這種干擾，輕則影響強度的確定，增加分析線強度測量的統(tǒng)計誤差，降低分析元素的測定靈敏度；重則是某些分析元素特別是微量元素無法準確測定。因此克服干擾譜線對于改善測定結果的準確度是十分必要的。在X射線光譜法中，如上所述，
臺式X熒光光譜儀檢測分析時采用的定律分析
臺式X熒光光譜儀之所以能夠對生活中不同元素形成的各式各樣的導體及非導體材料進行分析，是因為它的強大功能，那么你知道X熒光光譜儀在檢測分析時采用了哪些定律呢？X熒光光譜儀在檢測分析時采用了以下定律：莫塞萊定律：該定律反映了X射線熒光的波長與元素原子序數之間的關系。根據這一定律，只要測出一系列X射線熒光譜線的波長，在排除了其他譜線的干擾以后即可確定元素的種類。布拉格定律：這一定律是波長色散型X熒光光譜