臺(tái)式X熒光光譜儀有哪三種探測(cè)器？

時(shí)間：2023-11-15作者：無錫創(chuàng)想分析儀器有限公司杭州分公司瀏覽：81

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  詞條說明

• 伊瓦特手持式光譜分析儀可以應(yīng)用在考古研究的哪些方面

  伊瓦特手持式光譜分析儀在考古研究中具有廣泛的應(yīng)用，其非破壞性檢測(cè)的特點(diǎn)使其成為考古分析的理想工具。具體來說，該儀器主要應(yīng)用于古物的成分測(cè)定。通過對(duì)古文物中的元素和物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)和分析，可以推斷出古物的年代、真?zhèn)?、產(chǎn)地以及制作工藝等信息。這些信息對(duì)于考古學(xué)家來說至關(guān)重要，有助于他們較深入地了解古代社會(huì)、文化和歷史。此外，伊瓦特手持式光譜分析儀還可以用于文物保護(hù)工作。通過對(duì)文物表面的元素和物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)，

• 臺(tái)式X熒光光譜儀分析過程誤差之儀器方面

  熟悉臺(tái)式X熒光光譜儀這個(gè)儀器的應(yīng)該都知道它的原理，是X射線熒光光譜儀是通過X射線管產(chǎn)生的X射線作為激光源，激發(fā)光源激發(fā)樣品產(chǎn)生X熒光射線。根據(jù)熒光X射線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度來確定樣品的化學(xué)組成。那因?yàn)槠涓咝Ь雀叩奶攸c(diǎn)，X熒光光譜儀在我國(guó)各行各業(yè)應(yīng)用越來越廣泛。所以我們也要著力于研究X熒光光譜儀在分析過程中的誤差，那么今天小編來給大家介紹下其中一個(gè)方面。創(chuàng)想臺(tái)式X熒光光譜儀X熒光光譜儀儀器方面的誤差因素：

• 具體材料具體分析 臺(tái)式X熒光光譜儀的材料分析檢測(cè)法詳解

  臺(tái)式X熒光光譜儀因?yàn)樗奶赜刑攸c(diǎn)，所以可以無損檢測(cè)多種材料，具體材料具體分析，下面我們來了解一下X熒光光譜儀檢測(cè)幾種金屬合金材料和非金屬材料的檢測(cè)方法。生鐵的分析檢測(cè)，生鐵中的碳是以元素狀態(tài)存在，灰口鐵中的碳有的呈球狀石墨，有的呈片狀石墨，在研磨過程中表面上脫落的石墨孔也會(huì)引起其他分析元素的污染，造成分析錯(cuò)誤。澆鑄的試樣是不均勻的，不適合作X射線熒光分析。而急冷試樣的晶粒很細(xì)，分布，碳生成滲碳體（

• 臺(tái)式X熒光光譜儀的制樣需要注意哪些點(diǎn)？

  臺(tái)式X熒光光譜儀越來越受大家的青睞，X射線熒光實(shí)際上是一個(gè)表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，那么在使用儀器測(cè)試的時(shí)候，需要注意哪些方面，才能讓測(cè)試結(jié)果誤差較小呢？創(chuàng)想小編來給大家分別介紹下。1、由樣品制備和樣品自身引起的誤差：（1）樣品的均勻性。（2）樣品的表面效應(yīng)。（3）粉末樣品的粒度和處理方法。（4）樣品中存在的譜線干擾。（5）樣品本身的共存元素影響即基體效應(yīng)。（6）樣品的性質(zhì)。（7）標(biāo)