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詞條說明
直讀光譜儀在90年代以前只能分析金屬中氣體元素C,S。后來光譜儀生產(chǎn)技術(shù)的提高。金屬中氣體元素系指C,S,N,O,H.九十年代以前光電直讀光譜儀只能分析C,S.。隨著光譜還有可用于遠(yuǎn)紫外的光電倍增管的出現(xiàn),對充惰性氣體光學(xué)系統(tǒng)的重新認(rèn)識與改進(jìn),光電直讀光譜對于氣體元素分析有了巨大的飛躍。對于氮的分析是光電直讀光譜分析新的突破,在較初是用174.27nm譜線測量,但是測量穩(wěn)定性差,氮的含量也得高,所
X熒光光譜儀樣品制得好 分析數(shù)據(jù)準(zhǔn)確高
一般來說X熒光光譜儀運(yùn)用到的X射線熒光是一個表面分析的方法,它的分析方法是一個相對分析方法,這就要求任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復(fù)操作可能性。因此測試人員在制樣的時候得嚴(yán)格且精細(xì),樣品的分析面相對于整個樣品要有代表性。1、避免制備樣品時發(fā)生誤差和樣品自身引起的誤差:(1) 樣品的均勻性。(2) 樣品的表面效應(yīng)。(3) 粉末樣品的粒度和處理方法。(4) 樣品中存在的譜線干擾。(5) 樣品本身的
在工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制中,準(zhǔn)確測量金屬鍍層的厚度和成分至關(guān)重要。臺式X熒光光譜儀作為一種高效、精確的分析工具,能夠滿足這一需求,幫助企業(yè)和研究人員實(shí)現(xiàn)對金屬鍍層的無損檢測。今天創(chuàng)想儀器小編給大家介紹下臺式X熒光光譜儀在金屬鍍層測量中的應(yīng)用及其優(yōu)勢。臺式X熒光光譜儀的工作原理臺式X熒光光譜儀利用X射線照射待測樣品,激發(fā)樣品中的原子產(chǎn)生熒光。每種元素都有其*特的熒光光譜,類似于指紋,因此可以通過分析熒光
手持式光譜儀怎么把測量數(shù)據(jù)預(yù)處理?
手持式光譜儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器,主要由X光管、探測器、CPU以及存儲器組成,由于其便攜具有高效、便攜、準(zhǔn)確等特點(diǎn),使其在合金、礦石、環(huán)境、消費(fèi)品等領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用。那手持式光譜儀測量數(shù)據(jù)的預(yù)處理方法是什么呢?創(chuàng)想儀器會在這篇文章里告訴你。手持式光譜儀的測量數(shù)據(jù)預(yù)處理可以通過以下步驟進(jìn)行:數(shù)據(jù)篩選:檢查測量數(shù)據(jù)的完整性,例
公司名: 無錫創(chuàng)想分析儀器有限公司杭州分公司
聯(lián)系人: 馬建洲
電 話: 0510-83205379
手 機(jī): 18262253279
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地 址: 江蘇無錫濱湖區(qū)富潤路8號
郵 編: 214161
網(wǎng) 址: glmy6688.b2b168.com
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