如何根據(jù)電子電氣產(chǎn)品的尺寸和重量來確定跌落試驗(yàn)的高度標(biāo)準(zhǔn)？

時(shí)間：2025-12-19作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：695

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司專注于高低溫測(cè)試,光老化測(cè)試,振動(dòng)沖擊測(cè)試,IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試,鹽霧腐蝕測(cè)試,HALT測(cè)試,sem+eds測(cè)試,清潔度測(cè)試,工業(yè)CT掃描等, 歡迎致電 15827322876

• 詞條

  詞條說明

• 不同類型電子電氣產(chǎn)品的鹽霧腐蝕測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如何準(zhǔn)確選?。?/a>

  考慮產(chǎn)品的使用環(huán)境首先，要明確產(chǎn)品實(shí)際的使用環(huán)境。如果電子電氣產(chǎn)品是用于戶外沿海地區(qū)，如海邊的通信基站設(shè)備、海洋船舶上的電子儀器等，這類產(chǎn)品直接暴露在高鹽霧濃度的環(huán)境中，需要選擇更嚴(yán)格的鹽霧腐蝕測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。例如，可能需要參照一些長(zhǎng)期鹽霧暴露試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，像 ASTM B117 標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的連續(xù)噴霧測(cè)試方法，模擬長(zhǎng)時(shí)間的高鹽霧濃度環(huán)境。而對(duì)于室內(nèi)使用的電子電氣產(chǎn)品，如普通的家用電腦、電視等，其受到鹽霧腐蝕

• 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)|電子電氣產(chǎn)品苯系物檢測(cè)方法有哪些？

  電子電氣產(chǎn)品中苯系物的檢測(cè)方法主要有以下幾種：氣相色譜法（GC）氣相色譜法是常用的檢測(cè)方法之一。其原理是利用試樣中各組分在氣相和固定液相間的分配系數(shù)不同，使混合物分離并測(cè)定。檢測(cè)時(shí)，汽化后的試樣被載氣帶入色譜柱中運(yùn)行，各組分在兩相間反復(fù)多次分配，因固定相對(duì)各組份的吸附或溶解能力不同，運(yùn)行速度各異，從而彼此分離，按流出順序進(jìn)入檢測(cè)器，被檢測(cè)并繪制出色譜峰。通過比較已知純物質(zhì)和未知物的保留參數(shù)，如保留

• PCBA 應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試中如何選取較佳測(cè)試點(diǎn)？

  在 PCBA 應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試中，選取最佳測(cè)試點(diǎn)是獲得準(zhǔn)確結(jié)果的關(guān)鍵步驟。首先，考慮組件的關(guān)鍵位置。對(duì)于 PCBA 電路板來說，像 BGA（球柵陣列封裝）、QFN（四方扁平無引腳封裝）等封裝形式的芯片是重點(diǎn)關(guān)注對(duì)象。這些芯片引腳眾多且間距小，在受熱或受到外力時(shí)容易出現(xiàn)應(yīng)力集中的情況。在芯片的四個(gè)角落以及中心位置附近設(shè)置測(cè)試點(diǎn)是比較合適的，因?yàn)榻锹渫菓?yīng)力變化比較明顯的地方，而中心位置可以幫助檢測(cè)整體

• 電子電器產(chǎn)品中的離子殘留對(duì)設(shè)備性能和可靠性有何影響？

  電氣性能方面短路風(fēng)險(xiǎn)增加：離子殘留中的導(dǎo)電離子，如金屬離子（銅離子、銀離子等），在一定的濕度條件下，會(huì)在電子電器產(chǎn)品的電路板等部件上形成導(dǎo)電通路。例如，在印制電路板（PCB）上，當(dāng)離子殘留使相鄰的線路之間的絕緣電阻降低到一定程度時(shí)，就可能引發(fā)短路。這會(huì)導(dǎo)致設(shè)備突然斷電、功能異常甚至損壞，嚴(yán)重影響設(shè)備的正常運(yùn)行。信號(hào)傳輸干擾：在高頻電路中，離子殘留會(huì)改變電路的電容、電感等參數(shù)。因?yàn)殡x子的存在相當(dāng)于在