優(yōu)爾鴻信檢測(cè)|SI 信號(hào)完整性測(cè)試的方法有哪些？

時(shí)間：2025-12-19作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：219

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• PCBA應(yīng)力應(yīng)變產(chǎn)生的原因有哪些？

  PCBA（印刷電路板組件）應(yīng)力應(yīng)變產(chǎn)生主要有以下幾方面原因：一、熱因素溫度變化在 PCBA 的工作過(guò)程中，組件中的電子元件會(huì)產(chǎn)生熱量。例如，功率放大器、CPU 等大功率器件在工作時(shí)會(huì)有明顯的發(fā)熱現(xiàn)象。當(dāng)這些元件發(fā)熱，而 PCBA 整體溫度升高時(shí)，由于電路板上不同材料的熱膨脹系數(shù)不同，就會(huì)產(chǎn)生熱應(yīng)力。像陶瓷封裝的芯片和有機(jī)材質(zhì)的電路板基板，它們?cè)谑軣崤蛎洉r(shí)的程度不一樣。當(dāng)溫度降低時(shí)，材料又會(huì)收縮，同

• 如何采用光譜分析法檢測(cè)電子電器產(chǎn)品中鎳鍍層的厚度及其釋放潛力？

  采用光譜分析法檢測(cè)電子電器產(chǎn)品中鎳鍍層的厚度及其釋放潛力，通?？梢允褂靡韵虏襟E：首先，準(zhǔn)備好待檢測(cè)的樣品，確保其表面清潔、無(wú)損傷和污染物，以獲得準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果。常用的光譜分析方法如 X 射線熒光光譜法（XRF），利用 X 射線激發(fā)樣品中的原子，產(chǎn)生特征熒光 X 射線。通過(guò)測(cè)量這些熒光 X 射線的能量和強(qiáng)度，可以確定樣品中元素的種類和含量。對(duì)于鎳鍍層厚度的檢測(cè)，XRF 能夠根據(jù)鎳元素的特征譜線強(qiáng)度來(lái)

• 優(yōu)爾鴻信精密量測(cè)|形位公差測(cè)量有哪些標(biāo)準(zhǔn)

  形位公差測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)主要如下：《GB/T 1182-2018產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS) 幾何公差 形狀、方向、位置和跳動(dòng)公差標(biāo)注.pdf》?《GB_T1182-1996形狀和位置公差通則、定義、符號(hào)和圖樣表示法》?實(shí)際的工業(yè)制品測(cè)量形位公差，會(huì)有很多技術(shù)細(xì)節(jié)，需要來(lái)自測(cè)量實(shí)驗(yàn)室的建議，提供形位公差測(cè)量方案，詳情咨詢優(yōu)爾鴻信編輯：Amanda王莉

• 優(yōu)爾鴻信精密量測(cè)|形位公差的定義

  形位公差指的是加工零部件存在尺寸公差，零部件幾何位置點(diǎn)、線、面的形狀位置，實(shí)際尺寸相對(duì)于理想尺寸總是會(huì)存在誤差，只是誤差范圍大小不同而已，這種幾何形狀差異，統(tǒng)稱為形位公差。優(yōu)爾鴻信精密量測(cè)實(shí)驗(yàn)室，認(rèn)可CMA/CNAS資質(zhì)，擁有獨(dú)立的超精密尺寸測(cè)量中心，提供基于ASME Y14.5.1-2019標(biāo)準(zhǔn)的，輪廓度公差測(cè)試實(shí)驗(yàn)室服務(wù)，提供產(chǎn)品幾何尺寸測(cè)量分析報(bào)告。