判斷電容器壽命與溫度的相關(guān)性—10度法則

時(shí)間：2023-07-03作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：109

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說明

• 電熱鼓風(fēng)干燥箱使用注意事項(xiàng)

  電熱鼓風(fēng)干燥箱采用電加熱方式進(jìn)行鼓風(fēng)循環(huán)干燥試驗(yàn)，分為鼓風(fēng)干燥和真空干燥兩種，鼓風(fēng)干燥就是通過循環(huán)風(fēng)機(jī)吹出熱風(fēng)，保證箱內(nèi)溫度平衡，真空干燥是采用真空泵將箱內(nèi)的空氣抽出，讓箱內(nèi)大氣壓**常壓，使產(chǎn)品在一個(gè)很干凈的狀態(tài)下做試驗(yàn)，是一種常用的儀器設(shè)備，主要用來干燥樣品，也可以提供實(shí)驗(yàn)所需的溫度環(huán)境。以下是鼓風(fēng)干燥箱需要注意的兩個(gè)方面：①不得將易燃、易爆、腐蝕性物品或在加熱之后釋放易燃、易爆、腐蝕性、揮發(fā)

• 芯片高低溫測(cè)試所需設(shè)備參數(shù)及標(biāo)準(zhǔn)

  芯片高低溫測(cè)試設(shè)備性能指標(biāo)保護(hù)措施： 1、可靠的接地保護(hù)裝置 2、電源欠壓，缺相保護(hù) 3、獨(dú)立工作室**溫保護(hù) 4、保護(hù)制冷機(jī)**壓、過載、油壓欠壓； 5、加熱器短路，過載保護(hù) 6、漏電保護(hù)，報(bào)警聲訊提及 芯片高低溫測(cè)試設(shè)備規(guī)格型號(hào)及技術(shù)參數(shù)：1.?溫度范圍：-20~+150℃/-40~+150℃/-50~+150℃/-60~+150℃/-85~+150℃。 2.控制穩(wěn)定性：±0.5℃ 3.

• UL2054安全標(biāo)準(zhǔn)的電性能測(cè)試

  1.短路試驗(yàn):每個(gè)測(cè)試電池樣品正、負(fù)極采取阻值<0.1QCu 線短接，電池放電直至起火或爆炸，或直至電池完全放電，殼體溫度重新降至室溫停止。試驗(yàn)在室溫和60士2℃進(jìn)行，電池在室溫或60℃±2℃達(dá)成和環(huán)境平衡穩(wěn)定后再短接。除非制造商指明是串聯(lián)或并聯(lián)，電池應(yīng)單獨(dú)測(cè)試。對(duì)于串聯(lián)或并聯(lián)應(yīng)用，另外五套電池需進(jìn)行測(cè)試，采取電池zui大數(shù)目依據(jù)所用串/并聯(lián)數(shù)目定。當(dāng)電池中有過流或熱保護(hù)裝置時(shí)且已經(jīng)過UL認(rèn)

• 車載屏幕高低溫試驗(yàn)測(cè)試條件及標(biāo)準(zhǔn)

  一、高溫試驗(yàn)高溫試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.2、IEC 、IEIA 364、MIL-STD-810F等。?二、低溫試驗(yàn)低溫試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.1、