熱風(fēng)循環(huán)烘箱溫度均勻性標準

時間：2023-07-28作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：174

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,快速溫度循環(huán)試驗箱等

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  詞條說明

• 冷熱沖擊試驗箱可用于半導(dǎo)體芯片的測試

  芯片(chip)，又稱微芯片（microchip），是集成電路的載體。一般而言，芯片（IC）泛指所有的半導(dǎo)體元器件，是在硅板上集合多種電子元器件實現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中*重要的部分，承擔著運算和存儲的功能。?????溫度的改變對半導(dǎo)體的導(dǎo)電能力、極限電壓、極限電流以及開關(guān)特性以及開關(guān)特性等都有很大的影響。當溫度過高時元器件體積發(fā)生

• 選擇可程式高低溫試驗箱廠家需注意三點

  隨著可程式高低溫試驗箱箱的逐漸普及，使用的公司越來越多，試驗箱廠家的數(shù)量也不斷增多，難免有些魚龍混雜，那么要如何選擇試驗箱廠家需要注意什么呢？下面就讓宏展的小編給大家介紹一下吧。一、您可以在企業(yè)信息系統(tǒng)中查詢制造商的業(yè)務(wù)范圍，查看業(yè)務(wù)范圍中是否有“儀表”。如果沒有，制造商本身沒有權(quán)利生產(chǎn)可程式高低溫試驗箱箱。其次，看看是否有“生產(chǎn)”或“研究與開發(fā)”這個詞。如果沒有，只有“銷售”，那么它就是經(jīng)銷商中

• 為什么高溫烘箱不能在滿載情況下做試驗

  據(jù)標準要求高溫烘箱的工作室容積至少應(yīng)是被測試產(chǎn)品外廓體積的3～5倍，其理由如下：1、被測試產(chǎn)品置入箱體后擠占了流暢的通道，通道變窄將導(dǎo)致氣流流速的增加，加速氣流與被測試產(chǎn)品之間的熱交換。這與環(huán)境條件的再現(xiàn)不符，因為在有關(guān)標準中對涉及溫度環(huán)境試驗都規(guī)定高低溫試驗箱內(nèi)試驗樣件周圍的空氣流速不應(yīng)**過1.7m/s，以防止試驗樣件和周圍氣氛產(chǎn)生不符合實際的熱傳導(dǎo)，在空載時試驗箱內(nèi)平均風(fēng)速為0.6～0.8m/

• 全光譜陽光模擬試驗倉

  全光譜陽光模擬試驗倉 陽光模擬實驗艙用于檢測成套零部件或整車在陽光照射下的老化性能。用戶可通過此測試對零部件或整車在照射后性能的更改進行評估，包括形狀、顏色、光澤度、手感、強度及各種熱膨脹結(jié)果等。 本系列產(chǎn)品符合標準MIL-STD-810，EPA,DIN75220等，并可根據(jù)客戶的其他測試需求進行特殊設(shè)計。 溫濕度性能： 尺寸：1立方到250立方 溫度范圍：-20-+100℃ 濕度范圍：25%-