研磨與拋光設(shè)備的種類

時(shí)間：2021-10-29作者：似空科學(xué)儀器（上海）有限公司瀏覽：313

似空科學(xué)儀器（上海）有限公司專注于無損檢測設(shè)備,芯片開封機(jī),影像測量儀,研磨拋光設(shè)備等

• 詞條

  詞條說明

• 全新產(chǎn)品Deltron車間型三坐標(biāo)測量機(jī)

  DELTRON專為車間使用而設(shè)計(jì)的三坐標(biāo)測量機(jī)Vision Engineering與英國Aberlink攜手合作開發(fā)，生產(chǎn)全新產(chǎn)品Deltron，創(chuàng)新且較具競爭力同時(shí)具有**高性價(jià)比的車間型接觸式測量系統(tǒng)。DELTRONCNC三坐標(biāo)測量機(jī)緊湊耐用精確高重復(fù)性Deltron是一款耐用、可靠并且易用的全新三坐標(biāo)測量機(jī)(CMM)，采用堅(jiān)實(shí)耐用的“非笛卡爾式”設(shè)計(jì)，創(chuàng)新的delta機(jī)構(gòu)，確保高水平的測量精度

• 失效分析意義及操作步驟

  失效分析意義及操作步驟失效分析的意義主要表現(xiàn)具體來說，失效分析的意義主要表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面： 失效分析是確定芯片失效機(jī)理的必要手段。 失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。 失效分析為設(shè)計(jì)工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì)，使之與設(shè)計(jì)規(guī)范較加吻合提供必要的反饋信息。 失效分析可以評估不同測試向量的有效性，為生產(chǎn)測試提供必要的補(bǔ)充，為驗(yàn)證測試流程優(yōu)化提供必要的信息基礎(chǔ)。失效分析主要步驟和內(nèi)容：1，

• 面向具體應(yīng)用如何選擇光學(xué)測量儀器（二）

  傳統(tǒng)測量系統(tǒng)和大多數(shù)傳統(tǒng)的視頻測量顯微鏡都具有共同的光學(xué)特性，包括相對較小的視場和較淺的焦距。傳統(tǒng)的比較器通常也有一個(gè)淺深度的焦點(diǎn)。視場根據(jù)屏幕大小和放大率而變化。?例如，一個(gè)14英寸的零件在比較器100x時(shí)一次只能看到零件的0.14英寸，而一個(gè)30英寸的零件在比較器10x時(shí)，一次只能看到3.0英寸。對于傳統(tǒng)的視頻測量顯微鏡和比較器來說，視場相對較小，為了測量整個(gè)部分，需要進(jìn)行多級平臺移

• 翹曲度的規(guī)范和測試辦法

  翹曲度的規(guī)范和測試辦法在主動化插裝線上，印制板若不屈整，會惹起定位禁絕，元器件無法插裝到板子的孔和表面貼裝焊盤上，乃至?xí)矇闹鲃硬逖b機(jī)。裝上元器件的板子焊接后發(fā)作曲折，元件腳很難剪平整齊。板子也無法裝到機(jī)箱或機(jī)內(nèi)的插座上，因而，拆卸廠遇到板翹相同是十分懊惱?，F(xiàn)在，印制板已進(jìn)入到表面安裝和芯片安裝的期間，拆卸廠對板翹的要求必定越來越嚴(yán)。翹曲度的**和測試辦法據(jù)美國IPC－6012（1996版）<