xrf測試儀

時間：2024-11-04作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：467

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  詞條說明

• 膜厚儀的影響因素有哪些呢?*是這樣解釋的

  膜厚儀是一種比較精密的監(jiān)測設(shè)備，它在平時的使用中對于精準(zhǔn)度的要求很高，但是還是會有誤差的現(xiàn)象發(fā)生，除了儀器本身的一些故障以外，環(huán)境因素也是造成誤差的一大“元兇”，本文就介紹一下膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說明： 1、基體金屬磁性質(zhì) 磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對

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