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膜厚儀是一種比較精密的監(jiān)測設備,它在平時的使用中對于精準度的要求很高,但是還是會有誤差的現(xiàn)象發(fā)生,除了儀器本身的一些故障以外,環(huán)境因素也是造成誤差的一大“元兇”,本文就介紹一下膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關說明: 1、基體金屬磁性質 磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對
由中國環(huán)境保護協(xié)會主辦,生態(tài)環(huán)境部、北京協(xié)辦的第21屆中國環(huán)保展覽會(CIEPEC2023)在中國展覽中心(朝陽館)拉開帷幕。本次展會匯聚20多個國家和地區(qū)的800余家環(huán)保從業(yè)單位及科研力量,充分展示“雙碳”“無廢城市”建設試點先進適用技術、智慧環(huán)保等新實踐應用案例。? ? ? ?本次展會,天瑞儀器可謂是產品豐富、陣容強大。攜旗下子公司上海磐合科學儀器股份有
rohs儀器測定土壤沉積物中無機元素應用方案儀器簡介WDX4000順序式波長色散X射線熒光光譜儀是天瑞儀器承擔的國家重大科學儀器專項項目的研究成果,具有完全的自主知識產權,并擁有多項國家專利。WDX4000采用了大量創(chuàng)新性和通用化的設計,配有40位自動進樣器,性能優(yōu)異,操作簡便。1)測角儀:具用專利保護的創(chuàng)新型鋼帶傳動系統(tǒng),精密雙軸,可出具計量部門校準證書。2)高壓:最大功率≥4kW,切換迅速,性
x射線測厚儀已經成為工業(yè)生產大量使用的檢測儀器,它具有高精度移動平臺可精確定位測試點重復定位精度小于0.005mm,x射線測厚儀是利用x射線熒光無損分析原理來解決電鍍厚度測試的儀器,采用上照式硅漂移SDD探測器配置,既滿足各種金屬膜厚測量,也適用各種形狀規(guī)則的樣品。江蘇天瑞儀器股份有限公司提供X射線熒光金屬表面膜厚測量儀的技術資料,操作說明和維護手冊。 x射線鍍層測厚儀主要用于貴金屬加工和首飾加
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯(lián)系人: 孫
電 話: 0512-57017357
手 機: 13814856624
微 信: 13814856624
地 址: 江蘇蘇州昆山市昆山市*園西路1888號
郵 編:
網(wǎng) 址: jstryq.cn.b2b168.com
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