數(shù)智轉(zhuǎn)型中新型DIC應(yīng)變測(cè)量技術(shù)究竟可以做什么？

時(shí)間：2024-12-10作者：北京喬澤科技有限公司瀏覽：102

北京喬澤科技有限公司專(zhuān)注于高加速壽命試驗(yàn)箱,非接觸應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng),人體生物力學(xué)分析軟件等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• EikoTwin DIC在復(fù)合材料熱載荷中的應(yīng)用

  法國(guó)Safran科技中心與法國(guó)國(guó)家航空航天研究中心共同研究了環(huán)境屏障涂層陶瓷基復(fù)合材料（CMC/EBC）在熱梯度載荷下的損傷行為。使用高熱通量的CO2激光進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，并通過(guò)有限元模型較新（FEMU）和損傷模型（ONERA損傷模型，ODM）進(jìn)行數(shù)值模擬。實(shí)驗(yàn)中，EikoTwin DIC技術(shù)被用于將測(cè)量的熱場(chǎng)投影到有限元模型的網(wǎng)格上，確保實(shí)驗(yàn)和數(shù)值數(shù)據(jù)的一致性。引言SiC/SiC陶瓷基復(fù)合材料（CMC）

• 敬請(qǐng)關(guān)注DIC的同步校準(zhǔn)：測(cè)量穩(wěn)健性和“自動(dòng)網(wǎng)格劃分”并肩**！

  今天我們將和大家分享如何使用同步目標(biāo)圖像（有或沒(méi)有網(wǎng)格對(duì)齊）進(jìn)行校準(zhǔn)，這是一種可以同時(shí)確定內(nèi)在和外在相機(jī)參數(shù)的新程序。此程序是對(duì)?EikoTwin DIC?中已有的混合方法的一種補(bǔ)充，當(dāng)實(shí)驗(yàn)條件下無(wú)法實(shí)現(xiàn)相機(jī)同步時(shí)，該混合方法依然具有重要意義。本文將介紹該同步方法的基本原理、實(shí)際優(yōu)勢(shì)、具體實(shí)施步驟，以及在開(kāi)展帶傳感器的力學(xué)測(cè)試過(guò)程中由此衍生的工作流程。進(jìn)行DIC測(cè)量時(shí)為什么需要

• 數(shù)智轉(zhuǎn)型中新型DIC應(yīng)變測(cè)量技術(shù)究竟可以做什么？

  在數(shù)智轉(zhuǎn)型過(guò)程中，虛擬仿真技術(shù)因其成本效益高、安全性強(qiáng)和可重復(fù)性等優(yōu)勢(shì)而日益普及。傳統(tǒng)的工程驗(yàn)證依賴于繁瑣的實(shí)驗(yàn)和大量的物理測(cè)試，不僅耗時(shí)耗力，而且成本高昂。EikoTwin DIC技術(shù)在傳統(tǒng)工程實(shí)驗(yàn)及物理測(cè)試之間架起一座隱形的橋梁，讓我們得以在仿真模擬模型上直接顯示實(shí)驗(yàn)測(cè)量的結(jié)果，給出仿真模型優(yōu)化建議，促進(jìn)仿真模擬與實(shí)驗(yàn)測(cè)試之間的協(xié)同，較大地減少了實(shí)驗(yàn)的數(shù)量，節(jié)約了寶貴的時(shí)間和資源。圖1 EIK

• 2025喬澤推出EikoTwin DIC代測(cè)服務(wù)-全場(chǎng)應(yīng)變與變形分析

  為了幫助客戶實(shí)現(xiàn)高精度的應(yīng)變與變形分析，我公司特提供基于 EikoTwin DIC技術(shù)的代測(cè)服務(wù)。EikoTwin DIC作為一一款以模擬驗(yàn)證為**構(gòu)建的數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)，結(jié)合了高分辨率影像捕捉、精確的數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)（DIC）與**的數(shù)據(jù)處理能力，能夠?yàn)榭蛻籼峁└哔|(zhì)量的應(yīng)變場(chǎng)、位移場(chǎng)和變形分析數(shù)據(jù)，適用于各類(lèi)復(fù)雜材料和結(jié)構(gòu)的力學(xué)性能測(cè)試與CAE驗(yàn)證。EikoTwin DIC代測(cè)服務(wù)為客戶提供全