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詞條說明
XRF的優(yōu)點:a)?分析速度高。測定用時與測定精密度有關(guān),但一般都很短,2~5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。b)?X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在**軟X射線范圍內(nèi),這種效應(yīng)較為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定。c)
無損檢測之涂鍍層測厚儀的故障主要有示值顯示不穩(wěn)定、誤差較大、不顯示數(shù)值等。引起這些故障的原因有來自儀器本身的也有來自被測工件的,還有就是來自自然環(huán)境的影響,下面我們介紹一下排除這些故障的方法。 示值顯示不穩(wěn)定 導(dǎo)致涂鍍測厚儀示值顯示不穩(wěn)定的原因主要是來自工件本身的材料和結(jié)構(gòu)的特殊性,比如工件本身是否為導(dǎo)磁性材料,如果是導(dǎo)磁性材料我們就要選擇磁性涂鍍層測厚儀,如果工件為導(dǎo)電體,我們就得選擇渦流涂鍍
利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。針對檢測樣本的不同種類,可在下列3種型號中進行選擇。測量引線架、連接器等各類電子元器件的微型部件、**薄薄膜的型號,能夠處理尺寸為600 mm×600 mm的大型印刷電路板的大型印刷電路板用型號,適合對陶瓷芯片電極部分中,過去難以同時測量的Sn/Ni兩層進行高能測量的型號。 兼顧易
作為國內(nèi)*的Rohs檢測儀制造廠商,儀器秉承精益求精的研發(fā)理念,利用現(xiàn)代半導(dǎo)體技術(shù)和計算機技術(shù)發(fā)展起來的新一代XRF測試儀EDX1800B,能夠**的解決ROHS環(huán)保指令涉及的有害物質(zhì)的快速測定。 Rohs檢測儀技術(shù)參數(shù) 分析檢出限可達1ppm;分析含量一般為1ppm到99.99%;任意多個可選擇的分析和識別模型;相互獨立的基體效應(yīng)校正模型;多變量非線性回歸程序;溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
公司名: 蘇州百測檢測科技有限公司
聯(lián)系人: 孫經(jīng)理
電 話: 0512-36600406
手 機: 15306138389
微 信: 15306138389
地 址: 江蘇蘇州昆山市*園西路1888號產(chǎn)業(yè)園
郵 編:
網(wǎng) 址: gcld88012007.cn.b2b168.com
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