x射線測厚儀分析范圍

時間：2018-10-11

作者：蘇州百測檢測科技有限公司

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X射線測厚儀校正方法
X射線測厚儀是檢測電鍍層厚度的儀器，通常x射線測厚儀被廣泛應用于電鍍廠，五金廠，汽車零部件，PCB加工，電子連接件等行業(yè)。X射線測厚儀又叫膜厚儀，測膜儀，鍍層測試儀，x射線鍍層測厚儀，金屬測厚儀，xrf測厚儀，x-ray測厚儀，x熒光光譜鍍層測厚儀等。那么如何校正？使用標準片進行校正是x射線測厚儀的正確方法，標準片又名膜厚儀校準片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校
什么是手持式光譜分析儀
手持式光譜分析儀具有便攜，快速，無損耗的特性，適合各種合金含量分析。手持式光譜分析儀只需兩秒鐘的時間即可快速的實現(xiàn)不銹鋼牌號，含量的檢測。手持XRF不銹鋼分析儀是鍋爐、容器、管道、制造等高溫高壓行業(yè)對生產(chǎn)過程中進行材料可靠性鑒別(PMI)的重要手段。在鋼鐵冶煉、有色金屬、航空航天、武器制造、潛艇船舶等軍、民國家重點工程行業(yè)的生產(chǎn)過程中對金屬材料進行識別。在石化精煉、精細化工、制藥、電力電站、航空
XRF環(huán)保ROHS測試儀的優(yōu)缺點
XRF的優(yōu)點:a)?分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。b)?X射線熒光光譜跟樣品的化學結(jié)合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在**軟X射線范圍內(nèi)，這種效應較為顯著。波長變化用于化學位的測定。c)
Rohs檢測儀詳情
作為國內(nèi)*的Rohs檢測儀制造廠商，儀器秉承精益求精的研發(fā)理念，利用現(xiàn)代半導體技術和計算機技術發(fā)展起來的新一代XRF測試儀EDX1800B，能夠**的解決ROHS環(huán)保指令涉及的有害物質(zhì)的快速測定。 Rohs檢測儀技術參數(shù) 分析檢出限可達1ppm；分析含量一般為1ppm到99.99％；任意多個可選擇的分析和識別模型；相互獨立的基體效應校正模型；多變量非線性回歸程序；溫度適應范圍為15℃至30℃