海洋光學(xué)的光纖光譜儀對(duì)薄膜厚度測(cè)量的工作原理

時(shí)間：2023-03-31作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：307

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• 詞條

  詞條說明

• 波片和延遲器的定義和制造安裝方式

  波片的術(shù)語和規(guī)格雙折射-波片由雙折射材料制成，最常見的是石英晶體。雙折射材料對(duì)于在不同方向上偏振的光具有略微不同的折射率。因此，它們將入射的非偏振光分成平行和正交分量（圖?1）。圖?1：雙折射方解石晶體分離非偏振光快軸和慢軸Fast Axis and Slow Axis-沿快軸偏振的光遇到較低的折射率并且比沿慢軸偏振的光更快地穿過波片?？燧S由未安裝波片的快軸直徑上的小平點(diǎn)或圓點(diǎn)

• Specim One高光譜成像平臺(tái)在2022年Automate被推出

  Specim Spectral Imaging Ltd.是全球領(lǐng)先的高光譜成像解決方案供應(yīng)商。Specim成立于1995年，擁有一支由80多名專業(yè)人士組成的國(guó)際團(tuán)隊(duì)，他們?cè)诠鈱W(xué)、電子、軟件和機(jī)器視覺方面擁有專業(yè)知識(shí)，為市場(chǎng)提供最廣泛的高光譜相機(jī)、成像光譜儀、系統(tǒng)和配件。Specim其產(chǎn)品和支持具有卓越的質(zhì)量和成本效益。從6月6日至9日，在Automate 2022上，Specim將在5249號(hào)展位

• 集塵環(huán)境下使用Specim高光譜相機(jī)的注意事項(xiàng)

  高光譜成像是一種表面測(cè)量方法，因此灰塵或任何遮蓋樣品表面的東西都會(huì)干擾掃描并阻礙測(cè)量。那么如何在多塵環(huán)境中操作高光譜相機(jī)測(cè)量樣品呢？?灰塵出現(xiàn)在被測(cè)物體上干凈的樣品總是得到更好的測(cè)量，能提高它們的識(shí)別度。例如，在測(cè)量樣品核心部分時(shí)，必須在掃描之前清潔樣品。在回收過程中，灰塵或包裝標(biāo)簽會(huì)阻礙系統(tǒng)的分揀精度。如果要分揀的材料無法清潔或充分暴露在攝像機(jī)下，則需要調(diào)整分揀算法以將這種情況考慮在內(nèi)

• Specim推出全新線陣掃描高光譜相機(jī)GX17，工業(yè)**

  Specim宣布推出用于高級(jí)機(jī)器視覺的新高速線掃高光譜相機(jī)Specim GX17。新型Specim GX17補(bǔ)充了SpecimFX相機(jī)系列，其是第一款專為工業(yè)用途設(shè)計(jì)的近紅外高光譜相機(jī)。SpecimGX17線陣掃描高光譜相機(jī)的最大幀速率為800Hz，空間像素為480，比基于QVGA傳感器的傳統(tǒng)高光譜相機(jī)高出50%，大批量購買具有最佳梯度價(jià)。高效準(zhǔn)確的光學(xué)分選和檢測(cè)Specim GX17是一款功能強(qiáng)